半導(dǎo)體高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱適用于電工、電子產(chǎn)品、航天產(chǎn)品、汽車零部件、各種電子元?dú)饧诟邷?、低溫或交變濕熱環(huán)境下，檢測(cè)其各性能指標(biāo)。

用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件，無(wú)一不需要它的理想測(cè)試工具.

冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)箱廠家質(zhì)量好適用于電子元器件的安全性能測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等，同時(shí)通過(guò)此裝備試驗(yàn)，可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。

進(jìn)口高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱 質(zhì)量好的相關(guān)型號(hào)：TH-(A~F)、TH-150(A~F)、TH-225(A~F)、TH-408(A~F)、TH-800(A~F)、TH-1000(A~F) 　　TH：代表溫濕度；數(shù)字代表容積；A~F代表溫度范圍(A:+25℃;B:0℃;C:-20℃;D:-40℃;E:-60℃;F:-70℃)

進(jìn)口LED冷熱沖擊試驗(yàn)箱質(zhì)量好性能參數(shù)： 　　型號(hào)規(guī)格：TH-80CH 　　內(nèi)箱尺寸WDH（cm）:40×50×40 　　外箱尺寸WDH（cm）:95×165×95

小型溫度沖擊實(shí)驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)*的測(cè)試設(shè)備,用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。